產(chǎn)品簡介 價格區(qū)間 面議 行業(yè)專用類型 其它 儀器種類 臺式/落地式 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合 X射線顯微分析儀（μXRF）XGT-9000提供高效外來物質(zhì)分析與元素分布檢測方案，具備“快速分析模式"和“細節(jié)分析模式"。該設(shè)備通過*的顆粒增強技術(shù)和優(yōu)化的元素分布成像功能，實現(xiàn)高效、精確的微區(qū)分析。其獨特的同軸光學(xué)設(shè)計與雙照明方式確保了對各類樣品的清晰觀察，而多樣化的圖像處理手段則進一步提升了分析精度。 詳情介紹 解決方案 微區(qū) X 射線熒光光譜技術(shù)革新，實現(xiàn)速度與靈活性兼?zhèn)涞膬?yōu)異性能 具備超高靈敏度，元素檢測覆蓋范圍廣 搭載熒光 X 射線與透射 X 射線雙類型探測器 配備超高強度毛細管，可實現(xiàn) ≥10μm 級的光斑尺寸檢測 采用高分辨率相機，支持多種照明模式 軟件界面用戶友好，操作靈活便捷 超高靈敏度，元素檢測覆蓋范圍廣 XGT-9000 Pro 配備優(yōu)良的新型檢測系統(tǒng)，靈敏度更高，而 XGT-9000 Expert 則能提供超高的靈敏度與超寬的元素檢測范圍。靈敏度提升可縮短測量時間、提高工作效率，更寬元素檢測范圍可拓展應(yīng)用可能性。 （左）銅強度對比（右）超輕元素強度對比 [1][2] 所有結(jié)果均通過將 XGT-9000 Pro/Expert 與 HORIBA 常規(guī) X 射線熒光光譜儀各型號對比得出。 多探頭可選實現(xiàn)高質(zhì)量宏觀與微觀成像 XGT-9000 系列性能較好、靈活性強，這得益于精心設(shè)計的激發(fā)系統(tǒng)。它配備高輸出X射線發(fā)生器，電壓最高達 50 kV，電流最高達 1000 µA。探頭光斑尺寸可在 10 微米至 1.2 毫米間靈活調(diào)節(jié)。儀器支持配置多個探頭，通過軟件就能輕松切換。這樣既能保證大面積測繪的空間分辨率和測量效率，又能實現(xiàn)宏觀與微觀層面的高質(zhì)量快速成像。此外，該系列還提供 15 微米和 100 微米兩種超高強度探頭供選配。 采用多探頭對青金石進行元素層析成像 （左圖）使用 100 微米較強強度探頭進行快速掃描。（右圖）使用 15 微米較強強度探頭進行細節(jié)成像 配備熒光 X 射線與透射 X 射線雙模式探測器 XGT-9000 系列支持雙模式探測器：熒光 X 射線探測器能呈現(xiàn)樣品元素分布；透射 X 射線探測器則可解析樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)。設(shè)備能同步獲取同區(qū)域中兩種成像數(shù)據(jù)，有助于深入解析電子元器件、含包裹體的寶石標(biāo)本及生物樣品的微觀特征。 印刷電路板元素成像與透射 X 射線同步成像 (Left)（左圖）元素分層成像揭示集成電路芯片下方附著異物。（右圖）透射 X 射線成像顯示集成電路芯片下方存在大量空隙。 高分辨率較好光學(xué)成像 獲取清晰圖像是微區(qū) X 射線熒光分析的關(guān)鍵。XGT-9000 系列配備高分辨率相機系統(tǒng)，既能捕捉樣本整體形貌，又能呈現(xiàn)微觀尺度的精細結(jié)構(gòu)。兩種成像模式均支持數(shù)字縮放功能，可靈活調(diào)整樣本表面較優(yōu)分析位置。此外，多照明系統(tǒng)的配置確保獲得目標(biāo)樣本的高品質(zhì)光學(xué)圖像。 (左) 整體圖像,(右) 局部細節(jié)高分辨率蒼蠅顯微圖像，光學(xué)細節(jié)清晰鮮明 可適用多種樣品 XGT-9000 系列可應(yīng)對各類樣品，如微型碎片、印刷電路板、硬幣、片材、粉末、液體及晶圓?？膳鋫涠喾N樣品支架。此外，系統(tǒng)最多支持選擇 4 種測量環(huán)境以提升檢測靈敏度。 應(yīng)用廣泛的樣品倉 界面友好、且操作靈活便捷的軟件 XGT-9000 軟件（HORIBA X-RAY LAB）界面靈活且友好。它能清晰顯示數(shù)據(jù)、光學(xué)圖像、光譜結(jié)果、元素周期表和圖譜成像結(jié)果。得益于其靈活性，用戶可以自定義屏幕布局。此外，分析結(jié)果能在多臺顯示器同步顯示，幫助研究人員更清晰地查看結(jié)果，提升分析效率。檢測結(jié)果可生成報告、打印或?qū)С鰹?Excel、Word 和 PDF 格式。 XGT-9000 軟件在雙顯示器上的布局示例 除標(biāo)準(zhǔn)軟件功能外，還可添加高級模塊，以提供更全面的用戶體驗。 用于含標(biāo)準(zhǔn)樣品/非標(biāo)準(zhǔn)樣品厚度測量的多層薄膜分析法模塊 針對 RoHS 檢測的環(huán)保合規(guī)篩選模塊 無人值守模式下自動化批量測量的隊列任務(wù)模塊 用于顆粒分析及共定位分析的顆粒識別模塊 用于將數(shù)據(jù)傳輸至 LabSpec 6 進行多元分析的數(shù)據(jù)傳輸模塊 技術(shù)指標(biāo) 尺寸（單位：毫米） 上一篇： HORIBA Ultima Expert高性能ICP光譜儀 下一篇： HORIBA Duetta熒光及吸收光譜儀 【其他檢測】 拉曼加X射線熒光+文物“蜻蜓眼珠"+化學(xué)成分分析 08月06日