LS 13 320 XR 粒度分析儀采用的 PIDS 技術(shù)，為您提供準(zhǔn)確的粒度分布數(shù)據(jù)，讓您能夠進(jìn)行高分辨率的測(cè)量并擴(kuò)展動(dòng)態(tài)范圍。如同 LS 13 320，XR 分析儀提供快速、準(zhǔn)確的結(jié)果，并幫助您簡(jiǎn)化工作流程從而達(dá)到理想效率。一些重大改進(jìn)可讓您更容易察覺到細(xì)微差異，而正是這些細(xì)微的差異才會(huì)對(duì)您的粒度分析數(shù)據(jù)產(chǎn)生重大影響。

LS 13 320 XR 粒度分析儀的功能

直接測(cè)量范圍在 10 nm – 3,500 µm 之間

自動(dòng)突出顯示合格/不合格結(jié)果從而達(dá)到更快速的質(zhì)量控制

增強(qiáng)版軟件簡(jiǎn)化了標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法的創(chuàng)建

全新 控制標(biāo)準(zhǔn)充分驗(yàn)證儀器/模塊的性能

• 擴(kuò)展測(cè)量范圍：10 nm – 3,500 µm

• 激光衍射加上偏振光強(qiáng)度差散射 (PIDS) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)高分辨率的測(cè)量并可報(bào)告最小為 10 nm 顆粒的真實(shí)數(shù)據(jù)

• 可在單個(gè)樣品中提供針對(duì)多種粒度的準(zhǔn)確、可靠的檢測(cè)

• ADAPT 軟件可自動(dòng)進(jìn)行合格/不合格檢查

• 只需 3 步或更少，預(yù)配置方法即可呈現(xiàn)結(jié)果

• 簡(jiǎn)化專家及新手的分析儀操作流程

• 一步覆蓋歷史數(shù)據(jù)

• 直觀的用戶診斷可在取樣過程中時(shí)刻對(duì)您進(jìn)行提醒

• 簡(jiǎn)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量的方法創(chuàng)建流程

• 用3 種波長(zhǎng)的光（450、600 及 900 nm）通過垂直和水平偏振光照射樣品

• 分析儀從多角度測(cè)量來自樣品的散射光

• 每種波長(zhǎng)的水平及垂直輻射光之間的差異提供了高分辨率的粒度分布數(shù)據(jù)